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J-GLOBAL ID：201702283752962137   整理番号：17A0443332

Y_2/3Cu_3Ti_4O_12セラミックの誘電緩和挙動と機構【Powered by NICT】

Dielectric relaxation behavior and mechanism of Y_2/3Cu₃Ti₄O₁₂ ceramic

著者 (7件)： Deng Jianming (Key Laboratory of Nonferrous Materials and New Processing Technology, Ministry of Education, College of Materials Science and Engineering, Guangxi Universities Key Laboratory of Non-ferrous Metal Oxide Electronic Functional Materials and Devices, Guilin University of Technology, Guilin 54...) ,  Liu Laijun (Key Laboratory of Nonferrous Materials and New Processing Technology, Ministry of Education, College of Materials Science and Engineering, Guangxi Universities Key Laboratory of Non-ferrous Metal Oxide Electronic Functional Materials and Devices, Guilin University of Technology, Guilin 54...) ,  Sun Xiaojun (Key Laboratory of Nonferrous Materials and New Processing Technology, Ministry of Education, College of Materials Science and Engineering, Guangxi Universities Key Laboratory of Non-ferrous Metal Oxide Electronic Functional Materials and Devices, Guilin University of Technology, Guilin 54...) ,  Liu Saisai (Key Laboratory of Nonferrous Materials and New Processing Technology, Ministry of Education, College of Materials Science and Engineering, Guangxi Universities Key Laboratory of Non-ferrous Metal Oxide Electronic Functional Materials and Devices, Guilin University of Technology, Guilin 54...) ,  Yan Tianxiang (Key Laboratory of Nonferrous Materials and New Processing Technology, Ministry of Education, College of Materials Science and Engineering, Guangxi Universities Key Laboratory of Non-ferrous Metal Oxide Electronic Functional Materials and Devices, Guilin University of Technology, Guilin 54...) ,  Fang Liang (Key Laboratory of Nonferrous Materials and New Processing Technology, Ministry of Education, College of Materials Science and Engineering, Guangxi Universities Key Laboratory of Non-ferrous Metal Oxide Electronic Functional Materials and Devices, Guilin University of Technology, Guilin 54...) ,  Elouadi Brahim (Laboratory of Chemical Analysis Elaboration and Materials, Engineering (LEACIM), Universite de La Rochelle, Avenue Michel Crepeau, 17042 La Rochelle Cedex 01, France)
資料名： Materials Research Bulletin  (Materials Research Bulletin)
巻： 88  ページ： 320-329  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0954A  ISSN： 0025-5408  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Y_2/3Cu_3Ti_4O_12(YCTO)セラミックを空気(YCTO空気)と純O_2雰囲気(YCTO O_2)中で焼結した。YCTO O_2の誘電率と誘電損失は低周波で劇的に減少したことが分かった。YCTO空気とYCTO O_2の周波数依存インピーダンス(Z′′)と弾性率(M′′)スペクトルは,熱活性化過程を示した。Z′′とM′′スペクトルのスケーリング挙動は,緩和時間の分布は温度に依存しないことを示唆した。インピーダンス形式におけるCole-Coleプロットは,試料の電気的応答は,結晶粒と結晶粒界の両方に起因することを示した。導電率(σ′)スペクトルは普遍的誘電安息則に従う。短距離翻訳ホッピングがYCTO O_2用小型ポーラロンホッピング機構により支援された。さらに,σ′スペクトルのスケーリング挙動をさらに局所電気的応答時間の分布は温度に依存しないことを確認した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 緩和時間 ,  誘電損失 ,  ホッピング伝導 ,  *誘電緩和 ,  結晶粒 ,  LF【周波数】 ,  応答時間 ,  スペクトル ,  結晶粒界 ,  周波数依存性 ,  誘電率 ,  電気伝導率 ,  インピーダンス ,  *セラミック
準シソーラス用語： 熱活性化過程 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： Y_2/3Cu_3Ti_4O_12 ,  セラミックス ,  スケーリング挙動 ,  ポーラロンホッピング ,  誘電緩和

分類 (2件)： 塩基,金属酸化物  (CD01030Z) ,  誘電体一般  (BM05010F)

タイトルに関連する用語 (3件)： セラミック ,  誘電緩和 ,  挙動