Peng Xifeng について
Metrology and Testing Center,China Academy of Engineering Physics について
Chen Shuang について
Metrology and Testing Center,China Academy of Engineering Physics について
Li Haixing について
Metrology and Testing Center,China Academy of Engineering Physics について
Xiong Zhaohui について
Metrology and Testing Center,China Academy of Engineering Physics について
Zhongguo Ceshi について
工作物 について
制約条件 について
幾何学 について
作業標準 について
最小二乗法 について
座標測定機 について
品質 について
円弧 について
検出法 について
相対位置 について
least square method について
geometric usage constraint について
measurement of double short arcs について
CMM について
電子顕微鏡,イオン顕微鏡 について
分光法と分光計一般 について
干渉測定と干渉計 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
計算理論 について
電動機 について
医用情報処理 について
光学的測定とその装置一般 について
幾何学 について
制約 について
最小二乗法 について
円弧 について