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J-GLOBAL ID:201702285549555942   整理番号:17A0262610

指先シールの回転子軸軌跡と漏れ特性の試験【JST・京大機械翻訳】

Experiment on axis locus of rotor and leakage characteristics of finger seal
著者 (7件):
資料名:
巻: 31  号: 11  ページ: 2575-2584  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2110A  ISSN: 1000-8055  CODEN: HDOXE5  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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3つの状態,すなわち,クリアランス,遷移,および干渉の下での指先シールの回転子軸軌跡と漏れ特性を実験的に研究した。回転子の軸軌跡を,渦電流センサを用いて測定した。回転速度が大きいほど,回転子軸の偏移は小さい。摩耗状態を考慮せずに,軸方向偏移は,協調状態にほとんど影響を及ぼさなかった。これにより,シール試験台の安全性と有効性が確保された。これに基づき,回転速度,上下の圧力差,およびシールクリアランスが漏れ特性に及ぼす影響を実験的に研究した。結果は以下を示す。漏れ係数は回転速度の増加とともにわずかに減少した。圧力差が0.3MPA以下のとき,漏れ係数は,圧力差の増加とともに増加し,そして,圧力差が0.3MPAに達したとき,漏れ係数は,ゆっくりと変化した。圧力差は,漏れ係数に明らかな影響を及ぼさなかった。漏れ係数は,シールクリアランスの減少とともに減少し,そして,干渉の増加とともに減少した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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軸受 

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