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J-GLOBAL ID:201702286722082712   整理番号:17A0398672

C-H材料の先進型分光分析:多波長Raman分光法によるEELS特性化とその結合の再検討【Powered by NICT】

Advanced spectroscopic analyses on a:C-H materials: Revisiting the EELS characterization and its coupling with multi-wavelength Raman spectroscopy
著者 (10件):
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巻: 112  ページ: 149-161  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0270B  ISSN: 0008-6223  CODEN: CRBNA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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水素化非晶質炭素薄膜(a:C H)は多くの応用のための非常に有望な材料である。C-Hの関連性の成長は主にそれらの優れた特性の長期安定性に起因した。性能を改善するために,それらの局所化学の完全な理解は非常に重要である。十五年前,透過型電子顕微鏡(TEM)で開発した,電子エネルギー損失分光法(EELS)は,これらの材料のこのような定量的情報を抽出するための選択の技術であった。,Raman分光法,他の光学技術は,科学界によって支持した。しかし,TEM-EELSにより提供される空間分解能が不足している。それに加えて,今日,EELSの背後にある物理現象の複雑さはより良いが知られている。a:C-H薄膜を等温アニールした,それらの物理的および化学的パラメータの変化を局所的規模およびマクロ的規模で監視した。特に,化学的深さ不均一性とそれらの起源を明らかにした。さらに,EELスペクトルからの定量的化学情報適切かつ確実に抽出する新しい方法を提示した。最後に,Ramanコミュニティで使用される経験的モデルの妥当性を検討した。これらの研究はこのような複雑な材料の適切な研究のための局所的および巨視的分析の組み合わせの妥当性を実証した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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炭素とその化合物 
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