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J-GLOBAL ID：201702289147299165   整理番号：17A0365742

CVI設計された次元織物と3D SiC_f/SiC複合材料のシンクロトロンX線断層撮影特性評価【Powered by NICT】

Synchrotron X-ray tomographic characterization of CVI engineered 2D-woven and 3D-braided SiC_f/SiC composites

著者 (7件)： Gao Yantao (Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201800 China) ,  Wang Yudan (Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201800 China) ,  Yang Xinmei (Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201800 China) ,  Liu Min (Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201800 China) ,  Xia Huihao (Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201800 China) ,  Huai Ping (Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201800 China) ,  Zhou Xingtai (Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, 201800 China)
資料名： Ceramics International  (Ceramics International)
巻： 42  号： 15  ページ： 17137-17147  発行年： 2016年 
JST資料番号： H0705A  ISSN： 0272-8842  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： セラミックをマトリックスとした複合材料の性質は,それらの複雑な内部構造に強く依存する。炭化けい素繊維強化炭化けい素マトリックス複合材料(SiC_f/SiC)の特性を改善より良く理解するために,シンクロトロンX線計算機マイクロトモグラフィーを用いた二次元(2D)織物または三次元(3D)編組プレホームで強化した複合材料の微細構造特性を調べた。複合材料の横断面および体積画像によって,クレーム画像から再構築したとミクロ組織を三空間方向で検討した。複合材料中のボイド空間のネットワークは3Dで可視化し,空隙率の定量的解析は,繊維組織構造を特性化した。二次元織物SiC_f/SiC複合材料は,異なる方向における多孔性の重要な変動を示し,層の積層は,空隙率分布に大きく影響した。とは対照的に,3D編組SiC_f/SiC複合材料は,多孔性の変動はるかに低かった。複合材料のち密化の程度も空隙率分布も変化を与えることがわかった。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 編組 ,  多孔性 ,  *シンクロトロン ,  空隙率 ,  プリフォーム ,  内部構造 ,  緻密化 ,  再構成 ,  *X線CT ,  定量的分析 ,  炭化ケイ素 ,  *三次元 ,  二次元 ,  *キャラクタリゼーション ,  *複合材料

著者キーワード (3件)： X線マイクロトモグラフィー ,  SiC_f/SiC複合材料 ,  Porosity

分類 (2件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G) ,  セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V)

タイトルに関連する用語 (10件)： CVI ,  設計 ,  次元 ,  織物 ,  3D ,  SiC ,  複合材料 ,  シンクロトロン ,  X線断層撮影 ,  特性評価