文献

J-GLOBAL ID：201702289606915799   整理番号：17A0747977

Ti~2+イオン照射下でのチタングレード2における欠陥の発展【Powered by NICT】

Evolution of defects in titanium grade 2 under Ti²⁺ ion irradiation

著者 (9件)： JOUANNY E. (DCNS Research/CESMAN, Centre Grand Nantes - Technocampus Ocean, 44340, Bouguenais, France) ,  JOUANNY E. (DEN-Service de Recherches Metallurgiques Appliquees, CEA, Universite Paris-Saclay, 91191, Gif-sur-Yvette, France) ,  JOUANNY E. (Institut Jean Lamour - SI2M, CNRS UMR 7198, Universite de Lorraine, 54011, Nancy CEDEX, France) ,  DORIOT S. (DEN-Service de Recherches Metallurgiques Appliquees, CEA, Universite Paris-Saclay, 91191, Gif-sur-Yvette, France) ,  MALAPLATE J. (DEN-Service de Recherches Metallurgiques Appliquees, CEA, Universite Paris-Saclay, 91191, Gif-sur-Yvette, France) ,  DEHMAS M. (Institut Jean Lamour - SI2M, CNRS UMR 7198, Universite de Lorraine, 54011, Nancy CEDEX, France) ,  ALLAIS L. (DEN-Departement des Materiaux pour le Nucleaire, CEA, Universite Paris-Saclay, 91191, Gif-sur-Yvette, France) ,  THUAUT M. LE (DCNS Research/CESMAN, Centre Grand Nantes - Technocampus Ocean, 44340, Bouguenais, France) ,  MILLOT T. (DCNS Research/CESMAN, Centre Grand Nantes - Technocampus Ocean, 44340, Bouguenais, France)
資料名： Journal of Microscopy  (Journal of Microscopy)
巻： 265  号： 3  ページ： 275-286  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0454B  ISSN： 0022-2720  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： チタン合金に関与する微細構造の複雑性と多様性は,照射による欠陥の発展を定量的に記述するためにむしろ困難にしている。用量(0.6と3dpa),温度(300°Cと430°C)およびフラックス(15:1比)の影響を考慮したTi~2+イオン照射下で市販純チタングレード2の欠陥発展に焦点を当てた。照射損傷プロフィルはSRIMソフトウェアを用いてTEM観察のために少なくとも500nm深さに均一な損傷を得ると推定され,Saclay施設を用いてシミュレートした。暗視野像からの欠陥の定量化方法論に関する詳細を提供し,関連する不確実性の起源である。もつれた転位ネットワークに加えて,<a>型と<c>成分ループの存在が観察された。後者はほとんどチタン合金の場合に文献で報告されている。低温度で,<a>-型転位ループのサイズ分布は線量とフラックスに関係なく類似していたこれらのパラメータは430°Cで非常に影響を及ぼす。サイズ分布の広がりとしきい値培養線量(TID)の増加は,温度上昇とともに認められた。<c>成分ループの場合,0.6dpa低用量にもかかわらず発生した核形成することを示した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 転位網 ,  放射線量 ,  *イオン照射 ,  核形成 ,  低温 ,  チタン合金 ,  転位ループ ,  照射損傷 ,  昇温 ,  不確実性 ,  微細構造 ,  ソフトウェア
準シソーラス用語： サイズ分布 ,  暗視野 ,  透過型電子顕微鏡法 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 荷電粒子照射 ,  転位ループ ,  画像解析 ,  照射欠陥の発展 ,  チタン ,  透過型電子顕微鏡観察

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (5件)： イオン照射 ,  チタン ,  グレード ,  欠陥 ,  発展