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J-GLOBAL ID：201702289882456415   整理番号：17A0351316

横方向検層電極系の構造影響解析とアレイ化測定の新しい方法【JST・京大機械翻訳】

Effect of Electrode Array Structures in Laterolog and a New Array Measurement Method

著者 (4件)： Gao Jianshen (School of Geosicences,China University of Petroleum(Qingdao)) ,  Sun Jianmeng (School of Geosicences,China University of Petroleum(Qingdao)) ,  Jiang Yanjiao (School of Geosicences,China University of Petroleum(Qingdao)) ,  Cui Likai (School of Geosicences,China University of Petroleum(Qingdao))
資料名： Jilin Daxue Xuebao Diqiukexueban  (Jilin Daxue Xuebao Diqiukexueban)
巻： 46  号： 6  ページ： 1874-1883  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2699A  ISSN： 1671-5888  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 現在使用されている側向検層電極システムの構造と集束方式に対して、有限要素数値シミュレーション方法を用いて、三種類のよく見られる側向検層電極システム構造が電極係数、坑井影響係数、放射状探測深さに与える影響を研究した。本論文では,焦点合せ係数に焦点を合わせて,焦点合せ係数を導入し,焦点合せ係数を導入することによって,焦点合せ係数を導入することによって,焦点合せ係数を測定するための新しい方法を提案した。この方法の正しさをOKLAMOHA標準地層モデルを用いて検証した。その結果,異なる電極系の構造と電極の異なる部分が検層応答に対する影響が異なり,電極系の絶縁部分の長さが検出特性に大きく影響し,電極系の設計過程において検出特性に対する絶縁サイズの影響を考慮すべきであることを示した。ソフトウェア集束方法を採用して、ハードウェア焦点方式における残留電位差の影響を排除するだけではなく、両側二重構造を変えずに、焦点係数を0~1.1に選択し、異なる放射状探測深さの検層曲線を得て、アレイ横方向検層に類似したアレイ測定を実現した。測定結果により,電極係数は,集束係数の増加とともに減少し,そして,坑井の影響係数は,0.80~1.16に保たれ,そして,最大検出深さは,2.0M以上に達し,そして,それは,より豊富な地層抵抗分布情報を得た。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 焦点合せ ,  システム構造 ,  地層 ,  集束 ,  二重構造 ,  坑井 ,  ソフトウェア ,  *検層 ,  ハードウェア
準シソーラス用語： 電位差 ,  数値シミュレーション ,  有限要素 ,  影響分析 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： laterolog ,  electrode array structure ,  software focusing ,  focusing coefficient ,  finite element method ,  resistivity

分類 (9件)： 建設施工一般  (RA07010Z) ,  半導体レーザ  (BD04070L) ,  循環系モデル  (EL02020V) ,  絶縁材料  (NA04030W) ,  防食  (WB03040M) ,  計測学一般  (AD01000Q) ,  半導体と絶縁体の電気伝導一般  (BM03041P) ,  音響変換器,その他の機器  (BB03060N) ,  人工知能  (JE08000Z)

タイトルに関連する用語 (4件)： 横方向 ,  検層 ,  影響解析 ,  アレイ