文献

J-GLOBAL ID：201702290995066871   整理番号：17A0364671

Feを注入したSrTiO_3(001)における局所表面構造とSr空乏の変化【Powered by NICT】

Changes in local surface structure and Sr depletion in Fe-implanted SrTiO₃ (001)

著者 (7件)： Lobacheva O. (Department of Physics and Astronomy, Western University, London, ON N6A 5B7, Canada) ,  Yiu Y.M. (Department of Chemistry, Western University, London, ON N6A 5B7, Canada) ,  Chen N. (Canadian Light Source, Saskatoon, SK S7N 0X4, Canada) ,  Sham T.K. (Department of Physics and Astronomy, Western University, London, ON N6A 5B7, Canada) ,  Sham T.K. (Department of Chemistry, Western University, London, ON N6A 5B7, Canada) ,  Goncharova L.V. (Department of Physics and Astronomy, Western University, London, ON N6A 5B7, Canada) ,  Goncharova L.V. (Department of Chemistry, Western University, London, ON N6A 5B7, Canada)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 393  ページ： 74-81  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 30keVで2×10~14濃度2×10~16Fe/cm~2の範囲でFeを注入した単結晶チタン酸ストロンチウムSrTiO_3(001)試料の局所表面構造を研究した。Fe置換(ドーピング)を容易にするために,注入した試料は350°Cで酸素中でアニールした。Sr枯渇はイオン注入プロセスの影響を受けた表面近傍層で観察された,Rutherford後方散乱分光法(RBS),X線光電子分光法(XPS),X線近吸収端分光法(XANES),および原子間力顕微鏡(A FM)により明らかにされた。表面上の炭化水素汚染はSr枯渇の機構,ガスセンシング応用におけるSr(Ti_1 xFe_x)O_3δ材料にとって重要な意味を持つに寄与する可能性がある。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： X線 ,  *表面構造 ,  原子間力顕微鏡 ,  イオン注入 ,  吸収端 ,  単結晶 ,  Rutherford散乱分光法 ,  スペクトロスコピー ,  チタン酸ストロンチウム ,  X線光電子分光法 ,  *鉄 ,  XANES ,  *ストロンチウム

著者キーワード (4件)： XPS ,  XANES ,  FeドープSrTiO_3 ,  イオン注入

分類 (1件)： 酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (4件)： Fe ,  注入 ,  表面構造 ,  Sr