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J-GLOBAL ID：201702291478645786   整理番号：17A0475184

照射したアタパルガイト/イオン液体複合体をベースにしたPb(II),Cd(II),Hg(II)及びCu(II)のストリッピング分析【Powered by NICT】

Stripping analysis of Pb(II), Cd(II), Hg(II) and Cu(II) based on irradiated attapulgite/Ionic liquid composites

著者 (7件)： Xiong Shiquan (Key Laboratory of Environmental Toxicology and Pollution Control Technology of Anhui Province, and Key Laboratory of Ion Beam Bioengineering, Hefei Institutes of Physical Science, Chinese Academy of Sciences, Hefei, Anhui 230031, People’s Republic of China) ,  Xu Juncui (Department of Chemical and Chemical Engineering, Hefei Normal University, Hefei, Anhui 230601, People’s Republic of China) ,  Xie Fazhi (School of Materials Science and Chemical Engineering, Anhui Jianzhu University, Hefei 230022, People’s Republic of China) ,  Hu Xianhai (School of Materials Science and Chemical Engineering, Anhui Jianzhu University, Hefei 230022, People’s Republic of China) ,  Gong Guohong (Key Laboratory of Environmental Toxicology and Pollution Control Technology of Anhui Province, and Key Laboratory of Ion Beam Bioengineering, Hefei Institutes of Physical Science, Chinese Academy of Sciences, Hefei, Anhui 230031, People’s Republic of China) ,  Wu Zhengyan (Key Laboratory of Environmental Toxicology and Pollution Control Technology of Anhui Province, and Key Laboratory of Ion Beam Bioengineering, Hefei Institutes of Physical Science, Chinese Academy of Sciences, Hefei, Anhui 230031, People’s Republic of China) ,  Yao Liming (Key Laboratory of Environmental Toxicology and Pollution Control Technology of Anhui Province, and Key Laboratory of Ion Beam Bioengineering, Hefei Institutes of Physical Science, Chinese Academy of Sciences, Hefei, Anhui 230031, People’s Republic of China)
資料名： Chemical Engineering Journal  (Chemical Engineering Journal)
巻： 316  ページ： 383-392  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0723A  ISSN： 1385-8947  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 重金属イオンの個別及び同時検出は広く報告されている。しかし,照射天然素材を利用した検出限界(LOD)の感度と限界のような二の間の差と関係を解析しない。Pb(II),Cd(II),Hg(II)およびCu(II)イオンの電気化学的検出に基づいて,室温イオン液体(RTIL)複合材料被覆電極を持つ30kGy(IAP30)のフルエンスで照射したアタパルガイト(IAP)を組み合わせて,それらのストリッピング挙動を矩形波ストリッピングボルタンメトリーによる比較分析した。金属イオンに対するIAP30/RTIL電極の感度及びLODの特徴は,IAP電極と比較して著しく改善された。IAP30/RTIL電極を用いたPb(II),Cd(II),Cu(II)およびHg(II)に対する同時検出のLODは0.8,0.5,0.2及び0.06nMであった。同時検出におけるPb(II),Cd(II)の感度及びLODは個々の検出におけるそれらよりも低く,高かったが,Hg(II)およびCu(II)のそれは増加し,IAP30/RTILまたはIAP30修飾電極での個々の検出と比較して減少した。同時検出中のHg(II)の増強された感度は242.4μA/μMに達し,四金属イオンの中で最大であった。溶液を含むPb(II)-Cd(II)-Hg(II), Cd(II)-Cu(II)-Hg(II), Pb(II)-Cu(II)-Hg(II), Cu(II)-Hg(II), Pb(II)-Hg(II), Cd(II)-Hg(II)の六群の分析は,それぞれ行った。本研究は,天然材料による重金属の高感度電気化学センサの構築のための新しい方法,および種々の金属イオンの分析のための環境制御のニーズを満たす効果的な参照を提供した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 金属イオン ,  *イオン液体 ,  電気化学センサ ,  矩形波 ,  天然材料 ,  化学修飾電極 ,  被覆溶接棒 ,  検出限界 ,  重金属 ,  *パリゴルスカイト ,  高感度
準シソーラス用語： 室温イオン液体 ,  電気化学検出 ,  同時検出 ,  重金属イオン , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 重金属イオン ,  個別及び同時検出 ,  ストリッピング分析 ,  感度と検出限界 ,  電気分析

分類 (2件)： 下水,廃水の物理的処理  (SC03040L) ,  吸着,イオン交換  (XD02060I)

タイトルに関連する用語 (9件)： アタパルガイト ,  イオン液体 ,  複合体 ,  Pb ,  Cd ,  Hg ,  Cu ,  ストリッピング ,  分析