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J-GLOBAL ID:201702291944767146   整理番号:17A0754672

サイズと密度は制御された記憶応用のためのAgナノクラスタに埋め込まれたMOS構造【Powered by NICT】

Size and density controlled Ag nanocluster embedded MOS structure for memory applications
著者 (7件):
資料名:
巻: 63  ページ: 1-5  発行年: 2017年 
JST資料番号: W1055A  ISSN: 1369-8001  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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それらのサイズと密度の独立制御を持つ四重極質量フィルタ(QMF)集合と結合したマグネトロンベースナノクラスタ源により堆積した,金属ナノクラスタ(NC)はNCベース不揮発性メモリ(NVM)素子を作製するのに使用した。Agは金属NCとして使用されるNVM電荷蓄積特性に及ぼす直径と密度の影響を提示した。HfO_2トンネルと制御酸化物間にサンドイッチされたAgNCは上記二装置の組合せを用いて堆積した。アニーリングは,デバイス製造のどの段階でも行われていない。金属-酸化物-半導体(MOS)特性の静電容量-電圧(C V)特性における最大のヒステリシスループ面積は1×10~11cm~ 2のクラスタ密度で観察された。さらに,NC直径はNC密度を1×10~11cm~ 2で3から1.5nmに変化させたがNCサイズ依存性ヒステリシスループ面積はMOSデバイスで観測された。デバイス性能はNCサイズの減少と共に改善されることが判明し,NC直径1.5nmのその最良を示した。NVM素子の貯蔵時間もNC直径の減少と共に増加し,直径1.5nmのNCでは,最良の性能を示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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固体デバイス材料 

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