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J-GLOBAL ID：201702294871676531   整理番号：17A0443627

DEMシミュレーションとTaguchi直交実験計画法に基づいた円振動ふるいの最適化【Powered by NICT】

Optimisation of a circularly vibrating screen based on DEM simulation and Taguchi orthogonal experimental design

著者 (6件)： Zhao Lala (School of Mechatronic Engineering, China University of Mining and Technology, Xuzhou 221116, PR China) ,  Zhao Lala (Laboratory for Simulation and Modelling of Particulate Systems, Department of Chemical Engineering, Monash University, Clayton, VIC 3800, Australia) ,  Zhao Yuemin (School of Chemical Engineering, China University of Mining and Technology, Xuzhou 221116, PR China) ,  Bao Chunyong (School of Mechatronic Engineering, China University of Mining and Technology, Xuzhou 221116, PR China) ,  Hou Qinfu (Laboratory for Simulation and Modelling of Particulate Systems, Department of Chemical Engineering, Monash University, Clayton, VIC 3800, Australia) ,  Yu Aibing (Laboratory for Simulation and Modelling of Particulate Systems, Department of Chemical Engineering, Monash University, Clayton, VIC 3800, Australia)
資料名： Powder Technology  (Powder Technology)
巻： 310  ページ： 307-317  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0730A  ISSN： 0032-5910  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,円スクリーニングプロセスに及ぼす振動パラメータの複合効果を田口直交実験法に基づいて解析した。最初に,平均粒子速度と異なる粒径画分のスクリーニング効率を含むスクリーニングプロセスの数値研究を提示した。平均速度の変化と球状および非球状の両方の粒子モデルのための異なる粒径画分のスクリーニング効率を検討した。スクリーニングプロセスに及ぼす振動強度の影響を検討し,スクリーニング性能に及ぼす単一因子の解析により誘導される潜在的誤差を実証した。,16例の平均粒子速度とスクリーニング効率の直交試験データは,直接分析法を用いて解析した。スクリーニング性能に及ぼす振幅,周波数およびスクリーンデッキの傾斜角の組合せ効果は,因子の各レベルの計算された平均値に基づいて議論した。二スクリーニング性能指標のための三因子の対応する最適な組み合わせがそれぞれ得られた。スクリーニング性能指数に及ぼす振動パラメータの影響量も要因の範囲を比較して求めた。本研究では,操作パラメータの組合せ効果を理解するための助けとなるはずであると振動ふるいの効率的運用と最適設計のための必須情報を提供した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 最適設計 ,  *最適化 ,  スクリーニング ,  *直交性 ,  性能指数 ,  *実験計画法 ,  粒子速度 ,  *振動ふるい ,  傾斜角 ,  粒径
準シソーラス用語： 操作パラメータ ,  性能指標 ,  粒子モデル ,  平均速度 ,  数値研究 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： スクリーニングプロセス ,  DEM ,  田口法 ,  Optimization ,  微粒子材料

分類 (2件)： 固体の製造・処理一般  (XD03021O) ,  粉体工学  (XD03010M)

タイトルに関連する用語 (6件)： DEM ,  シミュレーション ,  実験計画法 ,  円 ,  振動ふるい ,  最適化