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J-GLOBAL ID：201702296657876406   整理番号：17A0410596

~117mSn半減期の精密測定【Powered by NICT】

A precise measurement of the ^117mSn half-life

著者 (4件)： Domingo T. (Simon Fraser University, Burnaby, BC, Canada, V5A 1S6) ,  Starosta K. (Simon Fraser University, Burnaby, BC, Canada, V5A 1S6) ,  Chester A. (Simon Fraser University, Burnaby, BC, Canada, V5A 1S6) ,  Williams J. (Simon Fraser University, Burnaby, BC, Canada, V5A 1S6)
資料名： Applied Radiation and Isotopes  (Applied Radiation and Isotopes)
巻： 119  ページ： 101-104  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0201A  ISSN： 0969-8043  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ~117mSn同位体は天然すずの高速,14.1MeV中性子放射化により製造し,及び背景で遮蔽したHPGe検出器を用いて研究した。~117mSnの半減期を正確に測定するために時間分解γ線分光法を可能にするために,市販のDAQはCAMACベースアナログDAQで置換した。適用DAQの不感時間応答は測定のための検証した。~117mSnの半減期は13.91±0.03日であると測定され,I(158.6keV)/I(156.0keV)γ線比は43.6±1.5と測定された。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 高速度 ,  不感時間 ,  γ線 ,  *半減期 ,  高純度Ge検出器 ,  中性子 ,  *精密測定
準シソーラス用語： γ線分光法 ,  中性子放射化 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： ~117mSn ,  中性子活性化 ,  不感時間検証 ,  時間分解ガンマ線分光法 ,  HPGe低バックグラウンド計数 ,  半減期

分類 (3件)： 核崩壊一般  (BG03010Z) ,  ベータ崩壊  (BG03030V) ,  電磁遷移(ガンマ崩壊)  (BG03020K)

タイトルに関連する用語 (2件)： 半減期 ,  精密測定