特許

J-GLOBAL ID：201703002540861197

テストデータ生成プログラム、方法及び装置

発明者： 徳本 晋 ,  上原 忠弘 ,  宗像 一樹 ,  藤原 翔一朗 ,  モンプラターンチャイ スッパシット ,  前田 芳晴 ,  片山 朝子
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 原田 一男
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-163794
公開番号（公開出願番号）：特開2015-032282
特許番号：特許第6142724号
出願日： 2013年08月07日
公開日（公表日）： 2015年02月16日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 プログラムにおいて実行される複数の関数の各々についてシンボリック実行を行うと共に、シンボル変数に関わる分岐を辿った履歴を表す条件と、当該関数の引数及び返却値についての条件との少なくともいずれかを含む実行条件を前記複数の関数の各々について生成し、 生成された複数の実行条件を論理積によって統合し、 統合後の条件を満たすシンボル変数の値を算出し、算出された当該シンボル変数の値を含むテストデータを生成する 処理をコンピュータに実行させるためのテストデータ生成プログラム。

IPC (1件)：

G06F 11/36 ( 200 6.01)

FI (2件)：

G06F 11/36 184 ,  G06F 11/36 108

引用文献：

出願人引用 (2件)

• 「有界モデル検査法を用いたモジュラー検証のテストケース生成による補完」
• 「有界モデル検査法を用いたCプログラムのモジュラー検証」