特許
J-GLOBAL ID：201703006523459950
キラリティ測定方法及びキラリティ測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-161373
公開番号（公開出願番号）：特開2015-031605
特許番号：特許第6202307号
出願日： 2013年08月02日
公開日（公表日）： 2015年02月16日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 ガス状試料におけるキラリティの測定方法であって、軸線に沿って分子配向させたネマチック液晶体にジグ-ザグの一対からなる欠陥構造を与え、前記欠陥構造を変形させないように、前記軸線に沿って前記ネマチック液晶体の表面に前記ガス状試料を導いて前記欠陥構造の変化を測定することを特徴とするキラリティ測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
出願人引用 (1件)
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Zigzag line defects and manipulation of colloids in a nematic liquid crystal in microwrinkle grooves
審査官引用 (1件)
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Zigzag line defects and manipulation of colloids in a nematic liquid crystal in microwrinkle grooves
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