特許
J-GLOBAL ID:201703016923149432

希土類薄膜磁石及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 小越 勇 ,  小越 一輝
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-556505
特許番号:特許第6178521号
出願日: 2015年10月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】 Si基板上に直接成膜したNd-Fe-Bからなる希土類薄膜磁石であって、前記希土類薄膜の膜厚が70μm以下の場合、Nd含有量が原子数比で0.15≦Nd/(Nd+Fe)≦0.25の条件式を満たし、前記希土類薄膜の膜厚が70μm〜115μm(但し、70μmは除く)の場合、Nd含有量が原子数比で0.18≦Nd/(Nd+Fe)≦0.25の条件式を満たし、前記希土類薄膜の膜厚が115μm〜160μm(但し、115μmは除く)の場合、Nd含有量が原子数比で0.20≦Nd/(Nd+Fe)≦0.25の条件式を満たすことを特徴とする希土類薄膜磁石。
IPC (8件):
H01F 10/14 ( 200 6.01) ,  H01F 10/28 ( 200 6.01) ,  H01F 41/20 ( 200 6.01) ,  H01F 1/057 ( 200 6.01) ,  H01F 41/02 ( 200 6.01) ,  C23C 14/28 ( 200 6.01) ,  C23C 14/58 ( 200 6.01) ,  C23C 14/14 ( 200 6.01)
FI (8件):
H01F 10/14 ,  H01F 10/28 ,  H01F 41/20 ,  H01F 1/057 ,  H01F 41/02 G ,  C23C 14/28 ,  C23C 14/58 A ,  C23C 14/14 F
引用特許:
出願人引用 (3件)
引用文献:
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