特許
J-GLOBAL ID:201703017788576364
変状度判定方法及び変状度判定システム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (8件):
西島 孝喜
, 弟子丸 健
, 田中 伸一郎
, 大塚 文昭
, 須田 洋之
, 上杉 浩
, 近藤 直樹
, 大浦 博司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-110297
公開番号(公開出願番号):特開2017-215248
出願日: 2016年06月01日
公開日(公表日): 2017年12月07日
要約:
【課題】地上の対象物の測定や判定を効率的かつ精度高く行うことができる、変状度判定方法及び変状度判定システムを提供することを目的とする。【解決手段】合成開口レーダを用いて測定される地表面上の対象物の変位量を取得する工程と、変位量と変状判定基準とを用いて対象物の変状度を判定する工程とを備える、変状度判定方法を提供する。また、合成開口レーダを用いて測定される地表面上の対象物の変位量を取得する、変位量取得部と、変位量と変状判定基準とを用いて対象物の変状度を判定する変状度判定部とを備える、変状度判定システムを提供する。【選択図】図5
請求項(抜粋):
合成開口レーダを用いて測定される地表面上の対象物の変位量を取得する工程と、
前記変位量と変状判定基準とを用いて前記対象物の変状度を判定する工程と
を備える、変状度判定方法。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (10件):
5J070AC02
, 5J070AE07
, 5J070AF03
, 5J070AF06
, 5J070AF08
, 5J070AH31
, 5J070AJ14
, 5J070AK40
, 5J070BE04
, 5J070BG27
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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引用文献:
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