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J-GLOBAL ID：201802210288056545   整理番号：18A0246480

加速器中性子源を用いたソフトエラー試験における電子機器の放射化特性解析

著者 (9件)： 青柳健一 (Nippon Telegraph and Telephone Corp.) ,  森弘樹 (Nippon Telegraph and Telephone Corp.) ,  岩下秀徳 (Nippon Telegraph and Telephone Corp.) ,  舩津玄太郎 (Nippon Telegraph and Telephone Corp.) ,  行田克俊 (Nippon Telegraph and Telephone Corp.) ,  佐藤博隆 (Hokkaido Univ.) ,  加美山隆 (Hokkaido Univ.) ,  古坂道弘 (Hokkaido Univ.) ,  鬼柳善明 (Nagoya Univ.)
資料名： 日本加速器学会年会(Web)  (日本加速器学会年会プロシーディングス(Web))
巻： 14th  ページ： ROMBUNNO.THOL09 (WEB ONLY)  発行年： 2017年 
JST資料番号： U0092A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *加速器 ,  中性子源 ,  *ソフトエラー ,  電子装置 ,  *放射化
準シソーラス用語： 加速器中性子源 ,  電子機器

分類 (2件)： その他の素粒子・核実験用粒子発生装置  (BE02040T) ,  核化学・放射化学一般  (CB10010V)

タイトルに関連する用語 (7件)： 加速器 ,  中性子源 ,  ソフトエラー ,  試験 ,  電子機器 ,  放射化 ,  特性解析