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文献
J-GLOBAL ID:201802242229828136   整理番号:18A0591030

メモリアクセスパターン依存故障の注入のためのQEMUベース故障注入器

著者 (6件):
資料名:
巻: 2018  号: HPC-163  ページ: Vol.2018-HPC-163,No.8,1-10 (WEB ONLY)  発行年: 2018年02月21日 
JST資料番号: U0451A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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近年,大規模計算機システムでの故障の増加が問題になっている。様々な耐故障技術が開発されたが,オーバーヘッドと耐故障性の間にトレードオフがあり,適切な手法の選択が難しい。耐故障技術の評価には故障注入が用いられるが,既存の故障注入器ではハードウェア特有の故障を再現し,アプリケーションレベルの詳細な解析ができない。我々は,ハードウェアに特有の故障を再現し,アプリケーションレベルの解析を容易に行える故障注入プラットフォームの提供を目的とする。本研究では,故障の主な発生源の一つであるDRAMを対象にして,メモリアクセスパターン依存故障をメモリI/Oフックにより注入した上で,耐故障性テスト対象のプロセスのメモリマップ情報を取得できるQEMUベース故障注入器MH-QEMUを作成した。評価では,MH-QEMUの故障注入機能使用時には,テスト対象アプリケーションの実行時間が最良の場合でも77倍になることを確認した。中でも,メモリインテンシブであったり,ノード間通信が少ないアプリケーションほどオーバーヘッドが大きいことを確認した。また,MH-QEMUでNAS Parallel BenchmarkのCGカーネルの耐故障性評価を行い,Row-Hammer発生時にSilent Data Corruptionにつながりやすいデータ領域を特定した。(著者抄録)
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分類 (2件):
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記憶装置  ,  記憶方式 
引用文献 (17件):
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タイトルに関連する用語 (4件):
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