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J-GLOBAL ID：201802278731510936   整理番号：18A0774266

微分・位相幾何学的考え方を用いたCVケーブル半導電層の抵抗率測定方法の理論~一つの応用例~

著者 (2件)： 渡辺和夫 (千葉大) ,  菅原賢悟 (近畿大)
資料名： 電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM)  (Annual Meeting Record, I.E.E. Japan (CD-ROM))
巻： 2018  ページ： ROMBUNNO.7-123  発行年： 2018年03月05日 
JST資料番号： S0653B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *層 ,  導電性 ,  *電気抵抗率 ,  電気測定 ,  位相幾何学 ,  *CVケーブル
準シソーラス用語： *半導電層 ,  微分位相幾何学

分類 (2件)： 電線・ケーブル  (NA05020S) ,  R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N)

タイトルに関連する用語 (8件)： 微分 ,  位相幾何学 ,  CVケーブル ,  半導電層 ,  抵抗率 ,  測定方法 ,  理論 ,  応用