文献

J-GLOBAL ID：201802288785349492   整理番号：18A1493774

放射光白色X線を利用したラウエ回折による新たなひずみ評価技術開発

著者 (6件)： 城鮎美 (量研機構) ,  齋藤寛之 (量研機構) ,  菖蒲敬久 (原子力発電技術機構) ,  豊川秀訓 (JASRI) ,  佐治超爾 (JASRI) ,  川瀬守弘 (JASRI)
資料名： X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集  (Proceedings of the Symposium on X-Ray Studies on Mechanical Behaviour of Materials)
巻： 52nd  ページ： 79-81  発行年： 2018年 
JST資料番号： F0605B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： X線回折 ,  シンクロトロン放射 ,  X線 ,  放射光施設 ,  ビームライン ,  *歪測定 ,  半導体検出器 ,  テルル化カドミウム ,  X線画像 ,  立体画像 ,  高感度
準シソーラス用語： *放射光X線回折 ,  白色X線 ,  SPring-8 ,  *Laue法 ,  SSD【検出器】 ,  CdTe ,  三次元イメージ

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (6件)： 放射光 ,  白色X線 ,  回折 ,  ひずみ ,  評価 ,  開発