特許
J-GLOBAL ID:201803007032389082

変形測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 山内 聡 ,  北原 宏修 ,  多田 裕司 ,  伊藤 世子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-146070
公開番号(公開出願番号):特開2018-017536
出願日: 2016年07月26日
公開日(公表日): 2018年02月01日
要約:
【課題】従来よりも利用しやすい変形測定装置を提供する。【解決手段】変形測定装置100が提供される。変形測定装置100は、変形可能であって、磁場勾配を生じさせるように磁性体が散在する第1の層110と、変形可能であって、第1の層110と略平行に配置される第2の層120と、磁場を生成するための部材130と、磁束密度を測定するためのセンサ140と、センサ140の測定結果に基づいて第1の層の変形量を計算するための制御部190と、を備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
変形可能であって、磁場勾配を生じさせるように磁性体が散在する第1の層と、 変形可能であって、前記第1の層と略平行に配置される第2の層と、 磁場を生成するための部材と、 磁束密度を測定するためのセンサと、 前記センサの測定結果に基づいて前記第1の層の変形量を計算するための制御部と、を備える変形測定装置。
IPC (1件):
G01B 7/24
FI (1件):
G01B7/24
Fターム (9件):
2F063AA03 ,  2F063AA25 ,  2F063AA28 ,  2F063AA41 ,  2F063BA29 ,  2F063BB03 ,  2F063BD11 ,  2F063DA02 ,  2F063GA58
引用特許:
審査官引用 (2件)
引用文献:
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