特許

J-GLOBAL ID：201803008541310890

結晶材料、結晶製造法、放射線検出器、非破壊検査装置、および撮像装置

発明者： 黒澤 俊介 ,  吉川 彰 ,  鎌田 圭 ,  横田 有為 ,  大橋 雄二 ,  堀合 毅彦 ,  庄子 育宏 ,  村上 力輝斗
出願人/特許権者： 国立大学法人東北大学 ,  株式会社C&A
代理人 (1件)： 特許業務法人酒井国際特許事務所
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2016065837
公開番号（公開出願番号）：WO2016-190439
出願日： 2016年05月27日
公開日（公表日）： 2016年12月01日
要約：

一般式(1):(RExA1-x-y-sByM’s)2+α(Si1-t,M”t)2+βO7+γで表され、パイロクロア型構造を持ち、非化学量論的組成、調和溶融組成である結晶材料。AはGd、Y、La、Sc、Yb及びLuから選択される少なくとも1種以上を含み、BはLa、Gd、Yb、Lu、Y及びScから選択される少なくとも1種以上を含み、0.1 請求項（抜粋）：

一般式(1): (RExA1-x-y-sByM’s)2+α(Si1-t,M”t)2+βO7+γ (1) で表され、パイロクロア型構造を持ち、且つ、非化学量論的組成、且つ、調和溶融組成であることを特徴とする結晶材料。 ここで、式(1)中、AはGd、Y、La、Sc、Yb及びLuから選択される少なくとも1種以上を含み、BはLa、Gd、Yb、Lu、Y及びScから選択される少なくとも1種以上を含み、0.1≦y<0.4であり、REはCe、Pr、Nd、Eu、Tb、Ybから選択される少なくとも1種以上を含み、0 IPC (8件)：

C30B 29/34 ,  C30B 15/08 ,  C30B 15/00 ,  C30B 13/00 ,  C09K 11/00 ,  G01T 1/20 ,  G01T 1/202 ,  C09K 11/79

FI (10件)：

C30B29/34 Z ,  C30B15/08 ,  C30B15/00 Z ,  C30B13/00 ,  C09K11/00 E ,  G01T1/20 B ,  G01T1/202 ,  G01T1/20 C ,  G01T1/20 G ,  C09K11/79

Fターム (52件)：

2G188AA02 ,  2G188BB04 ,  2G188CC09 ,  2G188CC14 ,  2G188CC15 ,  2G188CC22 ,  2G188CC23 ,  2G188DD05 ,  2G188DD41 ,  4G077AA02 ,  4G077AB04 ,  4G077AB10 ,  4G077BD15 ,  4G077CE03 ,  4G077CF01 ,  4G077CF10 ,  4G077EC01 ,  4G077HA01 ,  4G077HA20 ,  4H001CA04 ,  4H001XA03 ,  4H001XA08 ,  4H001XA11 ,  4H001XA12 ,  4H001XA14 ,  4H001XA19 ,  4H001XA20 ,  4H001XA21 ,  4H001XA22 ,  4H001XA26 ,  4H001XA38 ,  4H001XA39 ,  4H001XA40 ,  4H001XA57 ,  4H001XA58 ,  4H001XA59 ,  4H001XA60 ,  4H001XA63 ,  4H001XA64 ,  4H001XA65 ,  4H001XA70 ,  4H001XA71 ,  4H001XA72 ,  4H001XA73 ,  4H001XA74 ,  4H001XB11 ,  4H001XB21 ,  4H001XB31 ,  4H001XB41 ,  4H001XB42 ,  4H001XB61 ,  4H001XB80