文献
J-GLOBAL ID:200902000174870065
整理番号:93A0166813
Optimized Statistical Method for System-Level ESD Tests.
著者 (1件):
RENNINGER R G
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
資料名:
IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
(IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility)
巻:
1992
ページ:
474-484
発行年:
1992年
JST資料番号:
E0041A
ISSN:
2158-110X
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)