文献
J-GLOBAL ID:200902001933275203
整理番号:82A0196131
マイクロプロセッサ利用システムの試験と診断へのアプローチの展望
Survey of approaches to testing and diagnosing microprocessor-based systems.
著者 (2件):
SCHMITT W
(Mantech International Corp.)
,
LYNCH E
(Mantech International Corp.)
資料名:
IEEE AUTOTESTCON
(IEEE AUTOTESTCON)
巻:
1980
ページ:
127-130
発行年:
1980年
JST資料番号:
D0707A
ISSN:
1088-7725
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)