文献
J-GLOBAL ID:200902001971898974
整理番号:90A0127364
スキャン可能バッファとラッチによって簡単化したプロトタイプ試験法
Prototype testing simplified by scannable buffers and latches.
著者 (3件):
HALLIDAY A
(Texas Instruments Inc., Texas)
,
YOUNG G
(Texas Instruments Inc., Texas)
,
CROUCH A
(Texas Instruments Inc., Texas)
資料名:
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻:
1989
ページ:
174-181
発行年:
1989年
JST資料番号:
E0211B
ISSN:
1089-3539
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)