文献
J-GLOBAL ID:200902001981554599
整理番号:88A0458369
ランダムパターンを用いた半導体メモリテストの故障検出率の解析
Analysis of detection probability of semiconductor random access memories in applying random patterns.
著者 (3件):
玉本英夫
(秋田大 鉱山)
,
大高達美
(秋田大 鉱山)
,
成田裕一
(秋田大 鉱山)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
88
号:
42
ページ:
33-40(FTS88-6)
発行年:
1988年05月26日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)