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文献
J-GLOBAL ID：200902002156698282
整理番号：88A0303576
バリスティック電子放出顕微鏡による表面直下の界面の電子構造の直接研究
Direct investigation of subsurface interface electronic strucuture by ballistic-electron-emission microscopy.
KAISER W J
(California Inst. Technology, CA, USA)
,
BELL L D
(California Inst. Technology, CA, USA)
資料名：
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻： 60 号： 14 ページ： 1406-1409 発行年： 1988年04月04日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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