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文献
J-GLOBAL ID：200902002205088738
整理番号：91A0020064
走査電子顕微鏡内での後方散乱電子を用いた転位の観察
Imaging of dislocations using backscattered electrons in a scanning electron microscope.
CZERNUSZKA J T
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
,
LONG N J
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
,
BOYES E D
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
,
HIRSCH P B
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
資料名：
Philosophical Magazine Letters
(Philosophical Magazine Letters)
巻： 62 号： 4 ページ： 227-232 発行年： 1990年10月
JST資料番号： T0360A ISSN： 0950-0839 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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