文献
J-GLOBAL ID:200902003549123504
整理番号:82A0228088
半導体の診断法としての光ルミネセンス
Photoluminescence as a diagnostic of semiconductors.
著者 (1件):
DEAN P J
(Royal Signals and Radar Establishment, U.K.)
資料名:
Progress in Crystal Growth and Characterization
(Progress in Crystal Growth and Characterization)
巻:
5
号:
1/2
ページ:
89-174
発行年:
1982年
JST資料番号:
H0655A
ISSN:
0146-3535
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)