文献
J-GLOBAL ID:200902006636545430
整理番号:87A0185193
高ドーズの酸素注入によって形成した絶縁体上けい素構造中のドーパントの拡散の振舞い
Behavior of dopant diffusion in a silicon-on-insulator structure formed by high-dose oxygen implantation.
著者 (2件):
FAHEY P
(Inst. LAMEL, Consiglio Nazionale delle Ricerche, Bologna, ITA)
,
SOLMI S
(Inst. LAMEL, Consiglio Nazionale delle Ricerche, Bologna, ITA)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
60
号:
12
ページ:
4329-4332
発行年:
1986年12月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)