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文献
J-GLOBAL ID：200902007212348283
整理番号：91A0334779
超高速測定のための高速プログラム可能300ps光学遅延スキャナと信号平均化システム
Rapid programmable 300ps optical delay scanner and signal-averaging system for ultrafast measurements.
EDELSTEIN D C
(IBM Research Division, New York)
,
ROMNEY R B
(IBM Research Division, New York)
,
SCHEUERMANN M
(IBM Research Division, New York)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 62 号： 3 ページ： 579-583 発行年： 1991年03月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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