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文献
J-GLOBAL ID:200902007903541012   整理番号:93A0112666

Auger electron spectroscopy depth profiling studies on stationary and rotated samples of a new model metal/semiconductor multilayer structure.

著者 (4件):
ZALAR A
(Inst. Elektroniko in Vakuumsko Tehniko, Ljubljana, YUG)
HOFMANN S
(Max-Planck-Inst. Metallforschung, Stuttgart, DEU)
PANJAN P
(Inst. Jozef Stefan, Ljubljana, YUG)
KRASEVEC V
(Inst. Jozef Stefan, Ljubljana, YUG)

資料名:
Thin Solid Films  (Thin Solid Films)

巻: 220  号: 1/2  ページ: 191-196  発行年: 1992年11月20日 
JST資料番号: B0899A  ISSN: 0040-6090  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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