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文献
J-GLOBAL ID：200902007903541012
整理番号：93A0112666
Auger electron spectroscopy depth profiling studies on stationary and rotated samples of a new model metal/semiconductor multilayer structure.
ZALAR A
(Inst. Elektroniko in Vakuumsko Tehniko, Ljubljana, YUG)
,
HOFMANN S
(Max-Planck-Inst. Metallforschung, Stuttgart, DEU)
,
PANJAN P
(Inst. Jozef Stefan, Ljubljana, YUG)
,
KRASEVEC V
(Inst. Jozef Stefan, Ljubljana, YUG)
資料名：
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻： 220 号： 1/2 ページ： 191-196 発行年： 1992年11月20日
JST資料番号： B0899A ISSN： 0040-6090 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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