文献
J-GLOBAL ID:200902011186169500
整理番号:88A0358698
X線回折およびX線蛍光研究用の新しいZ軸回折計
A novel Z-axis diffractometer for X-ray diffraction and fluorescence studies.
著者 (2件):
BLOCH J M
(Argonne National Lab., IL, USA)
,
EISENBERGER P
(Exxon Research and Engineering Co., NJ, USA)
資料名:
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻:
31
号:
3
ページ:
468-474
発行年:
1988年05月
JST資料番号:
H0899A
ISSN:
0168-583X
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)