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文献
J-GLOBAL ID：200902011583171456
整理番号：89A0129888
重みづけしたランダムテストパタンのための多重分布
Multiple distributions for biased random test patterns.
WUNDERLICH H-J
(Univ. Karlsruhe, Karlsruhe, DEU)
資料名：
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻： 1988 ページ： 236-244 発行年： 1988年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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