文献
J-GLOBAL ID:200902012795449000
整理番号:88A0588464
TiNx薄膜の定量的Auger分析の問題点 ピークの重なりと線形の変化
Problems of quantitative Auger analysis of TiNx thin films: Peak overlapping and line shape changes.
著者 (1件):
PAMLER W
(Siemens Microelectronics Technology Center, Muenchen, DEU)
資料名:
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻:
13
号:
1
ページ:
55-60
発行年:
1988年10月
JST資料番号:
E0709A
ISSN:
0142-2421
CODEN:
SIANDQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)