文献
J-GLOBAL ID:200902014972934685
整理番号:86A0502077
シリコン中の浅い不純物に関する光熱イオン化スペクトルの解析
Analysis of photothermal ionization spectra of shallow impurities in silicon.
著者 (2件):
BAMBAKIDIS G
(Air Force Wright Aeronautical Lab., Ohio)
,
BROWN G J
(Air Force Wright Aeronautical Lab., Ohio)
資料名:
Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics
(Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻:
33
号:
12 Pt 1
ページ:
8180-8187
発行年:
1986年06月15日
JST資料番号:
D0746A
ISSN:
1098-0121
CODEN:
PRBMDO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)