文献
J-GLOBAL ID:200902015459587569
整理番号:87A0215031
多層膜X線アナライザの特性 モデルと測定
Characterization of multilayer X-ray analyzers : Models and measurements.
著者 (4件):
HENKE B L
(Univ. California, CA, USA)
,
UEJIO J Y
(Univ. California, CA, USA)
,
YAMADA H T
(Univ. California, CA, USA)
,
TACKABERRY R E
(Univ. California, CA, USA)
資料名:
Optical Engineering
(Optical Engineering)
巻:
25
号:
8
ページ:
937-947
発行年:
1986年08月
JST資料番号:
B0577B
ISSN:
0091-3286
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)