文献
J-GLOBAL ID:200902015525742996
整理番号:89A0280995
オキシ窒化けい素薄膜への水素混入
Hydrogen incorporation in silicon (oxy)nitride thin films.
著者 (3件):
KUIPER A E T
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
,
WILLEMSEN M F C
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
,
VAN IJZENDOORN L J
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
53
号:
22
ページ:
2149-2151
発行年:
1988年11月28日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)