文献
J-GLOBAL ID:200902015551577880
整理番号:89A0125540
アナログ半既製ICの開発について リニアICの高信頼度の回路検証
UEber die Entwicklung analoger Semikunden-ICs. Eine zuverlaessige Schaltungsverifikation von Linear-Arrays.
著者 (1件):
BASU J
(Raytheon Halbleiter GmbH, Muenchen, DEU)
資料名:
Elektronik
(Elektronik)
巻:
37
号:
22
ページ:
122-125
発行年:
1988年10月28日
JST資料番号:
C0404A
ISSN:
0013-5658
CODEN:
EKRKA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
ドイツ語 (DE)