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文献
J-GLOBAL ID：200902015664574178
整理番号：91A0256686
二次電子放出分光:ダイヤモンドおよびダイヤモンド膜表面近傍の評価をするための高感度な新しい方法
Secondary electron emission spectroscopy: A sensitive and novel method for the characterization of the near-surface region of diamond and diamond films.
HOFFMAN A
(Victoria Univ. Technology (RMIT), Vic., AUS)
,
PRAWER S
(Victoria Univ. Technology (RMIT), Vic., AUS)
,
FOLMAN M
(Technion, Israel Inst. Technology, Haifa, ISR)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 58 号： 4 ページ： 361-363 発行年： 1991年01月28日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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