文献
J-GLOBAL ID:200902015772803450
整理番号:92A0369310
低温エピタキシャル成長中のシリコン酸化の抑制
Inhibition of Silicon Oxidation during Low Temperature Epitaxial Growth.
著者 (2件):
AGNELLO P D
(IBM T.J. Watson Research Center, New York)
,
SEDGWICK T O
(IBM T.J. Watson Research Center, New York)
資料名:
Journal of the Electrochemical Society
(Journal of the Electrochemical Society)
巻:
139
号:
4
ページ:
1140-1146
発行年:
1992年04月
JST資料番号:
C0285A
ISSN:
1945-7111
CODEN:
JESOAN
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)