文献
J-GLOBAL ID:200902015781979863
整理番号:87A0058873
小寸法のFETにおける高周波雑音測定
High-frequency noise measurements on FET’s with small dimensions.
著者 (1件):
ABIDI A A
(Univ. California, CA, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
33
号:
11 Pt.1
ページ:
1801-1805
発行年:
1986年11月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)