文献
J-GLOBAL ID:200902016147912019
整理番号:90A0881756
Ge:Cu薄膜トランジスタ中のゲルマニウムの電気特性とその再結晶化プロセスに及ぼす銅の低ドーピング濃度の影響
The influence of low copper doping concentrations on the recrystallization process in and the electrical properties of germanium in Ge:Cu thin film transistors.
著者 (6件):
DOUTRELOIGNE J
(Ghent State Univ., Ghent, BEL)
,
DE BAETS J
(Ghent State Univ., Ghent, BEL)
,
DE RYCKE I
(Ghent State Univ., Ghent, BEL)
,
DE SMET H
(Ghent State Univ., Ghent, BEL)
,
VAN CALSTER A
(Ghent State Univ., Ghent, BEL)
,
VANFLETEREN J
(Ghent State Univ., Ghent, BEL)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
189
号:
2
ページ:
235-245
発行年:
1990年08月15日
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)