文献
J-GLOBAL ID:200902016956828860
整理番号:86A0503983
GaAsFETの低周波雑音測定
Low frequency noise measurements of GaAsFETs.
著者 (2件):
RIDDLE A N
(North Carolina State Univ.)
,
TREW R J
(North Carolina State Univ.)
資料名:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest
(IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest)
巻:
1986
ページ:
79-82
発行年:
1986年
JST資料番号:
A0636A
ISSN:
0149-645X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)