文献
J-GLOBAL ID:200902017369540965
整理番号:90A0765032
高い蒸着速度で作製したYBa2Cu3O7-x薄膜の大きな臨界電流密度
Large critical current densities in YBa2Cu3O7-x thin films made at high deposition rates.
著者 (9件):
WU X D
(Los Alamos National Lab., New Mexico)
,
MUENCHAUSEN R E
(Los Alamos National Lab., New Mexico)
,
FOLTYN S
(Los Alamos National Lab., New Mexico)
,
ESTLER R C
(Los Alamos National Lab., New Mexico)
,
DYE R C
(Los Alamos National Lab., New Mexico)
,
ENGLAND P
(Bellcore, New Jersey)
,
RAMESH R
(Bellcore, New Jersey)
,
XI X X
(Rutgers Univ., New Jersey)
,
INAM A
(Rutgers Univ., New Jersey)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
57
号:
5
ページ:
523-525
発行年:
1990年07月30日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)