文献
J-GLOBAL ID:200902017694005235
整理番号:85A0408826
角度制限回折トモグラフィとその平面走査システムへの応用
Limited angle diffraction tomography and its application to planar scanning systems.
著者 (3件):
LAN C Q
(Wuhan Inst. Physics Academia Sinica, People’s Republic of China)
,
XU K K
(Wuhan Inst. Physics Academia Sinica, People’s Republic of China)
,
WADE G
(Univ. California)
資料名:
IEEE Transactions on Sonics and Ultrasonics
(IEEE Transactions on Sonics and Ultrasonics)
巻:
32
号:
1
ページ:
9-16
発行年:
1985年01月
JST資料番号:
H0369A
ISSN:
0018-9537
CODEN:
IESUA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)