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文献
J-GLOBAL ID:200902017917981134   整理番号:92A0276792

マシンビジョンによる検査・計測技術 III. マシンビジョンとそのアーキテクチャ

Machine Vision Technologies for Inspection and Instrument. III. Machine Vision and its Architecture.
著者 (3件):
枝松邦彦
(富士電機総研)
瀬立光夫
(安川電機製作所)
有田秀のぶ
(新日本製鉄)

資料名:
電気学会論文誌 C  (IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems)

巻: 112  号:ページ: 58-64  発行年: 1992年02月 
JST資料番号: S0810A  ISSN: 0385-4221  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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