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文献
J-GLOBAL ID：200902019313453183
整理番号：90A0246479
ランダム試験の実験からのRAMの故障診断
Fault diagnosis of RAM’s from random testing experiments.
DAVID R
(Inst. National Polytechnique de Grenoble, Saint-Martin-d’Heres, FRA)
,
FUENTES A
(Inst. National Polytechnique de Grenoble, Saint-Martin-d’Heres, FRA)
資料名：
IEEE Transactions on Computers
(IEEE Transactions on Computers)
巻： 39 号： 2 ページ： 220-229 発行年： 1990年02月
JST資料番号： C0233A ISSN： 0018-9340 CODEN： ICTOB4 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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