文献
J-GLOBAL ID:200902019837886427
整理番号:89A0293530
乱れた表面,緩和表面,再構成表面におけるX線回折
X-ray diffraction from rough, relaxed and reconstructed surfaces.
著者 (5件):
VLIEG E
(FOM Inst. Atomic and Molecular Physics, Amsterdam, NLD)
,
VAN DER VEEN J F
(FOM Inst. Atomic and Molecular Physics, Amsterdam, NLD)
,
GURMAN S J
(Univ. Leicester, Leicester, GBR)
,
NORRIS C
(Univ. Leicester, Leicester, GBR)
,
MACDONALD J E
(Univ. Coll. Cardiff, GBR)
資料名:
Surface Science
(Surface Science)
巻:
210
号:
3
ページ:
301-321
発行年:
1989年03月
JST資料番号:
C0129B
ISSN:
0039-6028
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)