文献
J-GLOBAL ID:200902020246081240
整理番号:86A0359313
NMOSデバイスにおける静電パルスによる故障
Electrostatic pulse breakdown in NMOS devices.
著者 (2件):
AMERASEKERA E A
(Loughborough Univ. Technology, U.K.)
,
CAMPBELL D S
(Loughborough Univ. Technology, U.K.)
資料名:
Quality and Reliability Engineering International
(Quality and Reliability Engineering International)
巻:
2
号:
2
ページ:
107-116
発行年:
1986年04月
JST資料番号:
C0764C
ISSN:
0748-8017
CODEN:
QREIE5
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)